X熒光分析儀

X熒光分析儀

利用X射線檢查含量的儀器
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對上述X射線熒光的分析确定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。
  • 中文名:X熒光分析儀
  • 外文名:
  • 用途:
  • 工作原理:熒光,顧名思義就是在光的照射下
  • 儀器特點:可檢測固體﹑液體﹑粉末
  • 儀器結構:多功能置樣裝置

簡介

不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同,因此通過對X射線的能量或者波長的測量即可知道它是何種元素發出的,進行元素的定性分析。同時樣品受激發後發射某一元素的特征X射線強度跟這元素在樣品中的含量有關,因此測出它的強度就能進行元素的定量分析。因此,X射線熒光光譜儀有兩種基本類型:波長色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。

為了滿足現代企業管理和生産要求,必須對生産過程中的原材料的化學成分進行及時、準确的分析和控制,傳統的化學分析方法已經不能完全滿足生産過程的需要。目前衆多新型冶煉企業為了達到良好的質量控制指标,大都配備了相應的分析儀。由于化學分析方法分析速度的限制,實際上,采用化學分析方法對于生産過程來說隻有事後監測的意義,而沒有控制意義,往往是當我們發現某個控制環節有問題時,已經造成了嚴重的後果,給工廠帶來了很大的損失。

工作原理及特點

工作原理

從原子物理學的知識我們知道,對每一種化學元素的原子來說,都有其特定的能級結構,其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行,内層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子核的束縛,成為自由電子,我們說原子被激發了,處于激發态,這時,其他的外層電子便會填補這一空位,也就是所謂躍遷,同時以發出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的,它被激發後躍遷時放出的X射線的能量也是特定的,稱之為特征X射線。

通過測定特征X射線的能量,便可以确定相應元素的存在,而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量。量子力學知識告訴我們,X射線具有波粒二象性,既可以看作粒子,也可以看作電磁波。看作粒子時的能量和看作電磁波時的波長有着一一對應關系。這就是著名的普朗克公式:E=hc/λ。顯然,無論是測定能量,還是波長,都可以實現對相應元素的分析,其效果是完全一樣的

特點

原裝進口電制冷探測器,可以快速分析從11Na到92U之間的全部元素,精度高、測量時間短,它可以廣泛用于有色礦山、鋼鐵、水泥、耐火材料、不鏽鋼、合金等領域。

1.同時分析元素周期表中由鈉(Na)到鈾(U)之間的全部元素;

2.可檢測固體﹑液體﹑粉末,不需要複雜的制樣過程;

3.分析測量動态範圍寬,

SiO2≤0.04%AL2O3≤0.04%

Fe2O3≤0.04%CaO≤0.04%

MgO≤0.04%SO3≤0.04%

K2O≤0.04%Na2O≤0.04%

TiO2≤0.01%Cl-≤0.001%

|KH|≤0.01|SM|≤0.1|AM|≤0.1

4.采用原裝進口國際最先進的探測器,它具有高分辨率、高計數率的特點,使測量時間短,1分鐘内可以得到滿意的結果;

5.采用原裝進口信号處理線路,處理速度快,精度高,穩定可靠;

6.X光管采用高壓激發,激發與測試條件采用計算機軟件數碼控制與顯示;

7.探測器無需液氮保護,可以方便地應用到各個地方各個領域;

8.先進的真空自動控制及數字真空檢測顯示,自動化程度高;

9.具有樣品自旋功能,降低樣品表面不光潔及條紋的影響,可以應用于各類金屬分析行業;

10.儀器裝備有彩色液晶顯示屏,可以實時監示儀器運行過程中的各個參數;

11.先進的儀器漂移自動修正,确保儀器長期穩定;

12.精确度高,穩定性好,故障率低;

13.采用多層屏蔽保護,輻射安全性可靠;

14.WINDOWSXP中文應用軟件,獨特先進的分析方法,完備強大的功能,操作簡單,使用方便,分析結果存入标準ACCESS數據庫,便于與配料系統聯網。

儀器應用領域

鋼鐵行業:生鐵、爐渣、礦石、燒結礦、球團礦、鐵精粉、鐵礦石等。

水泥行業:生料、熟料、水泥、原材料等。

耐火材料:主要包括高矽質的粘土類、高鋁質的礬土類、高鎂質的鎂砂類、高鉻質類、各類剛玉等耐火材料。

有色行業:鋁廠各類樣品、鉛鋅礦、銅礦、錫礦、銀礦、钼礦等。

電氣電子産品行業:針對ROHS六種有害物質檢測,主要包括:白家電,如電冰箱、洗衣機、微波爐、空調、吸塵器、熱水器等;黑家電,如音頻、視頻産品、DVD、CD、電視接收機、IT産品、數碼産品、通信産品等;電動工具,電動電子玩具、醫療電氣設備等。

食品行業:食品中重金屬濃度分析。

考古學:古物年代鑒定。

藝術品修複:顔料中金屬成分分析。

概述

自1895年德國物理學家倫琴(RentenWC)發現了X射線。1896年法國物理學家喬治(GeorgsS)發現了X射線熒光,1948年弗利德曼(FriedmanH)和伯克斯(]3irksLS)首先研制了第一台商品性的波長色散X射線熒光光譜儀以來,X射線熒光光譜分析技術發展迅速。

尤其是2O世紀9O年代以來。随着電子技術和計算機的飛速發展,x射線熒光光譜儀和X射線熒光分析技術及其計算機軟件的不斷開發,X射線熒光光譜儀現已由單一的波長色散X射線熒光光譜儀發展成擁有波長色散、能量色散、電子探針、全反射、同步輻射和質子X射線光譜儀等一大家族。

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