光時域反射儀:光纜施工、維護及監測中的工具-中文百科頻道

全球主要品牌

美國安捷倫；

加拿大EXFO；

日本安立；（收購網泰）

日本橫河；（原日本安藤）

美國JDSU；（收購安科特納）

美國泰克；（現已停産）

美國信維；（手持式）

美國勝利；（模塊手持式）

國産中國電科四十一所；中國電科三十四所。

主要用途

主要用于測量光纖光纜的長度、傳輸損耗、接頭損耗等光纖物理特性，并能對光纖線路中的事件點、故障點準确定位。廣泛應用于光纖通信系統的工程施工、維護測試及緊急搶修、光纖光纜的研制與生産測試等。

詳細簡介

光時域反射儀會打入一連串的光突波進入光纖來檢驗。檢驗的方式是由打入突波的同一側接收光訊号，因為打入的訊号遇到不同折射率的介質會散射及反射回來。反射回來的光訊号強度會被量測到，并且是時間的函數，因此可以将之轉算成光纖的長度。

光時域反射儀可以用來量測光纖的長度、衰減，包括光纖的熔接處及轉接處皆可量測。在光纖斷掉時也可以用來量測中斷點。

OTDR動态範圍的大小對測量精度的影響初始背向散射電平與噪聲低電平的DB差值被定義為OTDR的動态範圍。其中，背向散射電平初始點是入射光信号的電平值，而噪聲低電平為背向散射信号為不可見信号。動态範圍的大小決定OTDR可測光纖的距離。當背向散射信号的電平低于OTDR噪聲時，它就成為不可見信号。

随着光纖熔接技術的發展，人們可以将光纖接頭的損耗控制在0.1DB以下，為實現對整條光纖的所有小損耗的光纖接頭進行有效觀測，人們需要大動态範圍的OTDR。增大OTDR動态範圍主要有兩個途徑：增加初始背向散射電平和降低噪聲低電平。影響初始背向散射電平的因素是光的脈沖寬度。影響噪聲低電平的因素是掃描平均時間。多數的型号OTDR允許用戶選擇注入被測光纖的光脈沖寬度參數。在幅度相同的情況下，較寬脈沖會産生較大的反射信号，即産生較高的背向散射電平，也就是說，光脈沖寬度越大，OTDR的動态範圍越大。

OTDR向被測的光纖反複發送脈沖，并将每次掃描的曲線平均得到結果曲線，這樣，接收器的随機噪聲就會随着平均時間的加長而得到抑制。在OTDR的顯示曲線上體現為噪聲電平随平均時間的增長而下降，于是，動态範圍會随平均時間的增大而加大。在最初的平均時間内，動态範圍性能的改善顯着，在接下來的平均時間内，動态範圍性能的改善顯着，在接下來的平均時間内，動态範圍性能的改善會逐漸變緩，也就是說，平均時間越長，OTDR的動态範圍就越大。

盲區對OTDR測量精度的影響我們将諸如活動連接器、機械接頭等特征點産生反射引起的OTDR接收端飽和而帶來的一系列“盲點”稱為盲區。光纖中的盲區分為事件盲區和衰減盲區兩種：由于介入活動連接器而引起反射峰，從反射峰的起始點到接收器飽和峰值之間的長度距離，被稱為事件盲區；光纖中由于介入活動連接器引起反射峰，從反射峰的起始點到可識别其他事件點之間的距離，被稱為衰減盲區。對于OTDR來說，盲區越小越好。盲區會随着脈沖寬的寬度的增加而增大，增加脈沖寬度雖然增加了測量長度，但也增大了測量盲區，所以，我們在測試光纖時，對OTDR附件的光纖和相鄰事件點的測量要使用窄脈沖，而對光纖遠端進行測量時要使用寬脈沖。

OTDR的“增益”現象由于光纖接頭是無源器件，所以，它隻能引起損耗而不能引起“增益”。OTDR通過比較接頭前後背向散射電平的測量值來對接頭的損耗進行測量。如果接頭後光纖的散射系數較高，接頭後面的背向散射電平就可能大于接頭前的散射電平，抵消了接頭的損耗，從而引起所謂的“增益”。在這種情況下，獲得準确接頭損耗的唯一方法是：用OTDR從被測光纖的兩端分别對該接頭進行測試，并将兩次測量結果取平均值。這就是分别對該接頭進行測試，并将兩次測量結果取平均值。這就是雙向平均測試法，是目前光纖特性測試中必須使用的方法。

OTDR能否測量不同類型的光纖如果使用單模OTDR模塊對多模光纖進行測量，或使用一個多模OTDR模塊對諸如芯徑為62.5mm的單模光纖進行測量，光纖長度的測量結果不會受到影響，但諸如光纖損耗、光接頭損耗、回波損耗的結果卻都是不正确的。這是因為，光從小芯徑光纖入射到大芯徑光纖時，大芯徑不能被入射光完全充滿，于是在損耗測量上引起誤差，所以，在測量光纖時，一定要選擇與被測光纖相匹配的OTDR進行測量，這樣才能得到各項性能指标均正确的結果。