lcr測試儀

lcr測試儀

LCR測試原理

Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當DUT(DeviceUnderTest)接入電路時，放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx準确測定DUT兩端電壓（DUT的Low電位是0），Vr與Rr測得DUT電流Ix，由此可計算Zx。

HP4275的測試端Hp,Hc,Lp,Lc（下标c代表current,下标p代表Potential)，Guard（接地)的配置可導緻測試的誤差的差異。

提高精度的方法是:1,Hp,Lp,Hc,Lc盡量接近DUT;2,減小測試電流Ix的回路面積&磁通量（關鍵是分析Ix，要配合使用Guard與Cable最小化回路面積);3,使用Gurard與Cable構建地平面中斷信号線間的電場連接，雖然會增加信号線的對地電容（對地電容不影響測試結果），但是會減少信号線的互容。

Guard與Cable的對地寄生阻抗（Zhg,ZLG)不影響測試結果，電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。

LCR測試儀的測量步驟

LCR測試儀一般用于測試電感和電容。測量步驟如下：

1.設置測試頻率

2.測試電壓或者電流水平

3.選擇測試參數，比如Z、Q、LS（串聯電感）、LP（并聯電感）、CS(串聯電感）、CP（并聯電容）、D等

4.儀器校準，校準主要進行開路、短路校準，高檔的儀器要進行負載校準

5.選擇測試夾具

6.夾具補償

7.将DUT放在夾具上開始測試

LCR測試儀IM3523

應用于生産線和自動化測試領域的理想選擇

●基本精度±0.05％，測量範圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)

●在比如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，可以以往産品10倍的速度不間斷測試。

●内置比較器和BIN功能

●2ms的快速測試時間