基本介紹
x射線的波長和晶體内部原子面之間的間距相近，晶體可以作為X射線的空間衍射光栅，即一束X射線照射到物體上時，受到物體中原子的散射，每個原子都産生散射波，這些波互相幹涉，結果就産生衍射。衍射波疊加的結果使射線的強度在某些方向上加強，在其他方向上減弱。分析衍射結果，便可獲得晶體結構。以上是1912年德國物理學家勞厄(M.vonLaue)提出的一個重要科學預見，随即被實驗所證實。1913年，英國物理學家布拉格父子(W.H.Bragg，W.L.Bragg)在勞厄發現的基礎上，不僅成功的測定了NaCl，KCl等晶體結構，還提出了作為晶體衍射基礎的著名公式——布拉格方程：2dsinθ=nλ。
對于晶體材料，當待測晶體與入射束呈不同角度時，那些滿足布拉格衍射的晶面就會被檢測出來，體現在XRD圖譜上就是具有不同的衍射強度的衍射峰。對于非晶體材料，由于其結構不存在晶體結構中原子排列的長程有序，隻是在幾個原子範圍内存在着短程有序，故非晶體材料的XRD圖譜為一些漫散射饅頭峰。
X射線衍射儀是利用衍射原理,精确測定物質的晶體結構,織構及應力,精确的進行物相分析,定性分析,定量分析.廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生産等領域.
X射線衍射儀是利用X射線衍射原理研究物質内部微觀結構的一種大型分析儀器，廣泛應用于各大、專院校，科研院所及廠礦企業。常見具備x射線衍射儀檢測能力的機構有：四川大學、西南交通大學、西南石油大學、中藍晨光化工研究院、華通特種工程塑料研究中心等。
基本構成
（1）高穩定度X射線源提供測量所需的X射線,改變X射線管陽極靶材質可改變X射線的波長,調節陽極電壓可控制X射線源的強度。
（2）樣品及樣品位置取向的調整機構系統樣品須是單晶、粉末、多晶或微晶的固體塊。
（3）射線檢測器檢測衍射強度或同時檢測衍射方向,通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。
（4）衍射圖的處理分析系統現代X射線衍射儀都附帶安裝有專用衍射圖處理分析軟件的計算機系統,它們的特點是自動化和智能化。
便攜式X射線衍射儀（INNOV-X）
作為X射線衍射儀（XRD）家族中一款颠複性的産品，與傳統台式XRD相比較，Innov-xTerra具有以下優勢•、便攜式機體：485x392x192mm重量：14.5kg（含4節電池），适合野外現場作業，占地小，購置及維護成本低。
•自動化使用樣品振動裝置，省去傳統台式機測角儀，樣品制備更簡單，測試無需轉動測角儀等機械部件，使用簡單，無需專業人員操作，自動化程度更高。
•集成性使用透射幾何衍射技術及高靈敏度CCD探測器，同步進行XRD及XRF檢測，提供檢測物質結構信息和元素成分信息。
•微量化檢測檢測樣品隻需15mg,尤其适合刑偵、環境、炸藥、管道腐蝕等難于收集樣品的檢測分析。
•無線傳輸采用WIFI無線連接，可遠程操控及傳輸采集的數據，實現數據采集的現場性和數據處理的及時性。
