X荧光分析仪

X荧光分析仪

利用X射线检查含量的仪器
X射线荧光就是被分析样品在X射线照射下发出的X射线,它包含了被分析样品化学组成的信息,通过对上述X射线荧光的分析确定被测样品中各组份含量的仪器就是X射线荧光分析仪。
  • 中文名:X荧光分析仪
  • 外文名:
  • 用途:
  • 工作原理:荧光,顾名思义就是在光的照射下
  • 仪器特点:可检测固体﹑液体﹑粉末
  • 仪器结构:多功能置样装置

简介

不同元素发出的特征X射线能量和波长各不相同,因此通过对X射线的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的,进行元素的定性分析。同时样品受激发后发射某一元素的特征X射线强度跟这元素在样品中的含量有关,因此测出它的强度就能进行元素的定量分析。因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型(WDEXRF)和能量色散型(EDXRF)。

为了满足现代企业管理和生产要求,必须对生产过程中的原材料的化学成分进行及时、准确的分析和控制,传统的化学分析方法已经不能完全满足生产过程的需要。目前众多新型冶炼企业为了达到良好的质量控制指标,大都配备了相应的分析仪。由于化学分析方法分析速度的限制,实际上,采用化学分析方法对于生产过程来说只有事后监测的意义,而没有控制意义,往往是当我们发现某个控制环节有问题时,已经造成了严重的后果,给工厂带来了很大的损失。

工作原理及特点

工作原理

从原子物理学的知识我们知道,对每一种化学元素的原子来说,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子核的束缚,成为自由电子,我们说原子被激发了,处于激发态,这时,其他的外层电子便会填补这一空位,也就是所谓跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。

通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量。量子力学知识告诉我们,X射线具有波粒二象性,既可以看作粒子,也可以看作电磁波。看作粒子时的能量和看作电磁波时的波长有着一一对应关系。这就是著名的普朗克公式:E=hc/λ。显然,无论是测定能量,还是波长,都可以实现对相应元素的分析,其效果是完全一样的

特点

原装进口电制冷探测器,可以快速分析从11Na到92U之间的全部元素,精度高、测量时间短,它可以广泛用于有色矿山、钢铁、水泥、耐火材料、不锈钢、合金等领域。

1.同时分析元素周期表中由钠(Na)到铀(U)之间的全部元素;

2.可检测固体﹑液体﹑粉末,不需要复杂的制样过程;

3.分析测量动态范围宽,

SiO2≤0.04%AL2O3≤0.04%

Fe2O3≤0.04%CaO≤0.04%

MgO≤0.04%SO3≤0.04%

K2O≤0.04%Na2O≤0.04%

TiO2≤0.01%Cl-≤0.001%

|KH|≤0.01|SM|≤0.1|AM|≤0.1

4.采用原装进口国际最先进的探测器,它具有高分辨率、高计数率的特点,使测量时间短,1分钟内可以得到满意的结果;

5.采用原装进口信号处理线路,处理速度快,精度高,稳定可靠;

6.X光管采用高压激发,激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示;

7.探测器无需液氮保护,可以方便地应用到各个地方各个领域;

8.先进的真空自动控制及数字真空检测显示,自动化程度高;

9.具有样品自旋功能,降低样品表面不光洁及条纹的影响,可以应用于各类金属分析行业;

10.仪器装备有彩色液晶显示屏,可以实时监示仪器运行过程中的各个参数;

11.先进的仪器漂移自动修正,确保仪器长期稳定;

12.精确度高,稳定性好,故障率低;

13.采用多层屏蔽保护,辐射安全性可靠;

14.WINDOWSXP中文应用软件,独特先进的分析方法,完备强大的功能,操作简单,使用方便,分析结果存入标准ACCESS数据库,便于与配料系统联网。

仪器应用领域

钢铁行业:生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等。

水泥行业:生料、熟料、水泥、原材料等。

耐火材料:主要包括高硅质的粘土类、高铝质的矾土类、高镁质的镁砂类、高铬质类、各类刚玉等耐火材料。

有色行业:铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、锡矿、银矿、钼矿等。

电气电子产品行业:针对ROHS六种有害物质检测,主要包括:白家电,如电冰箱、洗衣机、微波炉、空调、吸尘器、热水器等;黑家电,如音频、视频产品、DVD、CD、电视接收机、IT产品、数码产品、通信产品等;电动工具,电动电子玩具、医疗电气设备等。

食品行业:食品中重金属浓度分析。

考古学:古物年代鉴定。

艺术品修复:颜料中金属成分分析。

概述

自1895年德国物理学家伦琴(RentenWC)发现了X射线。1896年法国物理学家乔治(GeorgsS)发现了X射线荧光,1948年弗利德曼(FriedmanH)和伯克斯(]3irksLS)首先研制了第一台商品性的波长色散X射线荧光光谱仪以来,X射线荧光光谱分析技术发展迅速。

尤其是2O世纪9O年代以来。随着电子技术和计算机的飞速发展,x射线荧光光谱仪和X射线荧光分析技术及其计算机软件的不断开发,X射线荧光光谱仪现已由单一的波长色散X射线荧光光谱仪发展成拥有波长色散、能量色散、电子探针、全反射、同步辐射和质子X射线光谱仪等一大家族。

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